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Services本公司的主要業務為新一代功率半導體 r-GeO₂(金紅石型二氧化鍺)外延晶圓(基板)的研發、製造與銷售。

r-GeO₂ 基本物理性質表

特性 r-GeO₂
帶隙 (eV) 4.45~4.77(Measured)
擊穿電場 (MV/cm)
電子遷移率 (cm²/Vs))
空穴遷移率 (cm²/Vs)
熱導率 (W/m K)
平均熱膨脹係數 (/K) (Room temp. -600℃)((001) plane) 3.9×10⁻⁶(Measured)*
Baliga’s 優值 (Si=1)
維氏硬度 (Hv) ((110) plane) 1610 (Measured)*
楊氏模量 (GPa) 293GPa(Measured)*
r-GeO₂(金紅石型二氧化鍺)的帶隙(eV)實測值已於 2025 年 9 月 7 日發表。(4.45–4.77,Patentix)
                                    (文獻報導中的帶隙值為 4.85–5.63)

*n=1。

目前留白的物性數值仍在測量中,一旦取得可公開的數據,我們將立即更新。

r-GeO₂特性

高電壓、低能量損耗

高擊穿電場確保即使在高壓環境下仍能穩定運作,大幅降低電力轉換過程中的能量損耗。此特性有助提升系統效率並抑制發熱。

・輕巧緊湊

低損耗特性使裝置得以微型化,直接為終端產品節省空間與減輕重量。此特性提升設計彈性,並促進新應用領域的發展。

環保製造製程

GeO₂製造工藝有別於SiC的昇華法(需超過2000℃),可在低於1000℃的薄膜沉積溫度下生產。同時免除昂貴真空環境需求,大幅降低能耗,兼具環保效益與製造成本優勢。此外,其硬度低於碳化矽,且不具備氧化鎵般的解理特性,使元件製程更為簡便。此特性顯著提升元件製造良率並降低生產成本。 

・高品質晶體

可製造塊狀晶體,並透過同質外延生長技術實現高品質晶體薄膜。

助力節能社會

降低電力轉換過程中的能量損耗,有助減少二氧化碳排放,推動實現永續低碳社會。

開拓嶄新應用領域

實現傳統半導體難以達成的高功率、高電壓電力控制,驅動工業、交通等多元領域的技術創新。

GeO2 半導體產品

6英寸GeO2 on Si基板
(開發中)

付費樣品

產品攝影(參考照片)

規格

画像3-2

10mm方形
二氧化鍺(GeO₂)於二氧化鈦(TiO₂)基板上
(提供付費樣品)

 
  • 特點:於二氧化鈦基板上異質外延生長的金紅石型二氧化鍺薄膜,其晶體結構與二氧化鍺相同。 
  • 摻雜:可提供以銻(Sb)進行的n型摻雜。
  • 基板尺寸:10mm方形

詳情請洽詢。